AvaSpec-ULS4096CL-EVO – Espectrómetro UV/VIS/NIR de alta resolución
Medición espectral de alta resolución con 4.096 píxeles
El AvaSpec-ULS4096CL-EVO es un espectrómetro de fibra óptica de alta resolución para mediciones espectrales exigentes en el rango UV, visible e infrarrojo cercano de 200 a 1.100 nm.
Con su detector CMOS de 4.096 píxeles, el sistema está especialmente diseñado para aplicaciones que requieren una resolución espectral particularmente detallada. Dependiendo de la configuración óptica, son posibles resoluciones de hasta 0,05 nm.
En BF Engineering, utilizamos el espectrómetro especialmente para la caracterización detallada y el desarrollo de fuentes de luz avanzadas. El elevado número de píxeles del detector permite analizar con gran precisión estructuras espectrales estrechas y líneas de emisión.
Características principales
- Rango espectral: 200–1.100 nm
- Detector CMOS de 4.096 píxeles
- Resolución espectral especialmente alta
- Resolución de hasta 0,05 nm, dependiendo de la configuración
- Mediciones UV, VIS y NIR
- Óptica Ultra-Low-Stray-Light
- Tiempo de integración: 9 µs a 40 s
- Relación señal/ruido: 335:1
- Convertidor A/D de 16 bits
- Velocidad de medición de hasta 0,70 ms/escaneo
- USB 3.0
- Gigabit Ethernet
- Especialmente adecuado para mediciones de plasma, emisión y alta resolución
Análisis espectral con 4.096 píxeles
El AvaSpec-ULS4096CL-EVO combina un detector CMOS de 4.096 píxeles con un sistema óptico de alto rendimiento y una electrónica de procesamiento rápida.
La principal ventaja es la posibilidad de registrar estructuras espectrales con un nivel de detalle y una resolución especialmente elevados.
Esto resulta especialmente relevante para fuentes de luz cuyos espectros presentan numerosas líneas de emisión estrechas o estructuras espectrales complejas.
Por ello, el ULS4096CL-EVO es especialmente adecuado para mediciones espectrales de alta resolución, aplicaciones de plasma y espectroscopia de emisión.
Para el desarrollo de fuentes de luz modernas, el sistema proporciona una potente base para realizar análisis espectrales detallados.
- Rango espectral: 200–1.100 nm
- Detector: Sensor lineal CMOS de 4.096 píxeles
- Tamaño de píxel: 7 × 200 µm
- Diseño óptico: Ultra-Low-Stray-Light (ULS), diseño Czerny-Turner simétrico
- Distancia focal: 75 mm
- Resolución óptica: 0,05–20 nm, dependiendo de la configuración
- Luz parásita: 0,19–1,0 %, dependiendo de la rejilla utilizada
- Relación señal/ruido: 335:1
- Convertidor A/D: 16 bits / 6 MHz
- Tiempo de integración: 9 µs–40 s
- Velocidad de medición: hasta 0,70 ms/escaneo
- Interfaz USB: USB 3.0 / 5 Gbit/s
- Interfaz Ethernet: Gigabit Ethernet / 1 Gbit/s
- Dimensiones: 177 × 127 × 44,5 mm
- Peso: aprox. 1.155 g
La resolución espectral real y el rango de longitudes de onda utilizable dependen de la rejilla, la rendija de entrada y la configuración óptica seleccionada.
Medición espectral de alta resolución para fuentes de luz avanzadas
El AvaSpec-ULS4096CL-EVO es especialmente adecuado para aplicaciones en las que se requiere una alta resolución espectral y la detección precisa de estructuras espectrales individuales.
Las aplicaciones típicas incluyen:
- Fuentes de luz de plasma
- Diagnóstico de plasma
- Espectroscopia de emisión
- Simulación solar
- Fuentes de luz UV
- Caracterización de LED
- Fuentes de luz HMI
- Mediciones de irradiancia espectral
- Investigación y desarrollo
- Control de calidad
- Desarrollo de nuevas tecnologías de fuentes de luz
En BF Engineering, nos centramos especialmente en el análisis espectral detallado de fuentes de luz HMI, LED, UV y de plasma.
4.096 píxeles para el máximo detalle espectral
El detector CMOS del ULS4096CL-EVO dispone de 4.096 píxeles individuales.
En combinación con rejillas y rendijas de entrada adecuadas, permite alcanzar una resolución espectral de hasta 0,05 nm.
Esto permite diferenciar estructuras espectrales muy próximas entre sí y analizar detalladamente líneas de emisión individuales.
Esta capacidad es especialmente relevante en el desarrollo de fuentes de luz de plasma, ya que sus espectros pueden presentar numerosas líneas de emisión y diferentes estructuras espectrales.
La elevada resolución espectral permite analizar con precisión los cambios en el espectro bajo diferentes condiciones de funcionamiento.
Análisis detallado de espectros solares artificiales
En el desarrollo de sistemas de simulación solar, el ULS4096CL-EVO también permite realizar un análisis detallado de la distribución de la irradiancia espectral.
El rango de medición de 200 a 1.100 nm abarca importantes regiones del UV, la luz visible y el infrarrojo cercano.
Esto permite caracterizar espectralmente y comparar diferentes tecnologías de fuentes de luz.
Los datos de medición pueden utilizarse, entre otras, para las siguientes tareas:
- Análisis de la irradiancia espectral
- Comparación de diferentes fuentes de luz
- Análisis de rangos de emisión individuales
- Optimización de la composición espectral
- Desarrollo de nuevas fuentes de luz
- Validación de sistemas de simulación solar
De este modo, la espectroscopia de alta resolución complementa la medición convencional de la irradiancia total al proporcionar un análisis considerablemente más detallado de las características espectrales reales de una fuente de luz.
Medición espectral de alta gama en nuestro propio laboratorio
En BF Engineering utilizamos tecnología moderna de medición espectral para el desarrollo y la validación de sistemas de iluminación e irradiación de alto rendimiento.
El AvaSpec-ULS4096CL-EVO amplía nuestras capacidades de medición, especialmente en el ámbito del análisis espectral de alta resolución.
Analizamos diferentes tecnologías de fuentes de luz, como:
HMI · LED · UV · Plasma
Especialmente en el desarrollo de modernas fuentes de luz de plasma, la elevada resolución espectral permite analizar detalladamente rangos de emisión individuales y cambios espectrales bajo diferentes condiciones de funcionamiento.
Los datos de medición obtenidos se incorporan directamente a la investigación, el desarrollo de productos, la optimización y la validación de nuevas tecnologías de fuentes de luz.
De este modo, disponemos de capacidades de medición propias desde el primer prototipo hasta la caracterización final de un sistema de iluminación.
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Danelis Diaz
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